题目：金属材料微结构的超分辨4D-STEM研究

报告人：于荣  清华大学 材料学院

时间：2026年8月31日，下午14:00

地点： 李薰楼468会议室

报告摘要：

    材料的微结构研究在近年来经历了两次重大突破。在上世纪末，像差校正器将高分辨电镜的空间分辨率提高了一倍以上，微结构研究进入亚埃分辨率时代。最近，基于4D-STEM的叠层成像算法突破了显微成像的衍射极限，将像差校正电镜升级为超分辨电镜，微结构研究进入深亚埃分辨率时代。除分辨率优势外，超分辨电镜还具备三维成像能力、高原子定位精度、低剂量成像等特点。我们将以金属材料为例，介绍超分辨电镜的基本原理与特点，及其给材料科学带来的新机遇。

报告人简介：

    于荣，清华大学长聘教授，博导，杰青。2002年毕业于中国科学院金属研究所。长期致力于电子显微学、科学计算与科学仪器研究。近期主要发展超分辨电子显微学和原子级三维成像，形成了一系列具有自主知识产权的电子显微学方法、软件、仪器，创造并保持了显微分辨的最高记录；发明了局域轨道叠层成像方法，将显微成像的信息极限推进到了14皮米，将原子位置精度提高到了深亚皮米范围；发明了局域轨道层析成像方法，将原子分辨三维重构的体系尺寸从数万原子提高到百万原子；实现了原子分辨的磁成像、低剂量亚埃分辨成像、金属中轻原子的三维成像和局域统计分析。